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    芯片裝載/卸載機 (Load/Unloader)
    BW-FX-500 
    芯片測試分選設(shè)備 (Handler)
    BW-FXCS-550 
    芯片高低溫老化測試設(shè)備
    BW-GDW-660BW-GDW-800
    芯片烘烤老化設(shè)備
    無氧隧道爐550無氧隧道爐550IR
    卷對卷無塵隧道爐無塵/無氧化烤箱
    無塵充氮烤箱晶振點膠固化線
    無塵充氮隧道爐IR隧道爐
    IR多層爐真空烘箱
    垂立式直爐 
    工裝測試治具
    芯片測試治具工裝測試治具

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    ICT測試治具特性和功能




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        ICT測試治具有單面雙面之分,通用天板方便交換機種 ,使用可調(diào)培林座,容易保養(yǎng),使用壓克力&電木&FR-4 材質(zhì)(或指定),直接gerber文件處理生成鉆孔文件,保證鉆孔精度。 測試程式自動生成,避免手工輸入出錯之可能 適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT機型。兩被測點或被測點與預(yù)鉆孔之中心距不得小于0.050"(1.27mm)。以大于0.100"(2.54mm)為佳,其次是0.075"(1.905mm)。


        治具的測試點分布也盡量均勻,保證壓上后板子不變型,以免造成產(chǎn)品的損壞ICT測試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量,對二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進行功能測試,對中小規(guī)模的集成電路進行功能測試,如所有74系列、Memory 類、常用驅(qū)動類、交換類等IC.

        ICT測試治具通過直接對在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點上,故障定位準確。對故障的維修不需較多專業(yè)知識。采用程序控制的自動化測試,操作簡單,測試快捷迅速,單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。

        在線測試通常是生產(chǎn)中第一道測試工序,能及時反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況,利于工藝改進和提升。ICT測試治具測試過的故障板,因故障定位準,維修方便,可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測試項目具體,是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測試手段之一。




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